적합한 평면 패널 X선 검출기를 선택하는 방법
평판 검출기(FPD)는 산업용 2D/3D 검사 시스템(예: X선 디지털 이미징 시스템, 산업용 CT 스캐너 등), 비파괴 검사 및 과학 연구에 널리 사용되는 X선 이미징 장치입니다. 주요 기술 지표는 다음과 같습니다.
1. 공간 분해능: 공간 분해능은 평면 패널 검출기가 이미지의 세부 사항을 선명하게 분해할 수 있는 능력입니다. 일반적으로 픽셀 크기(픽셀 피치) 또는 밀리미터당 라인 쌍 수(밀리미터당 라인 쌍, 엘피/mm)로 표현됩니다. 중요도: 높은 공간 분해능은 더욱 선명하고 정확한 이미지를 제공할 수 있으며, 고정밀 이미징이 필요한 응용 분야에 적합합니다.
2. 감도: 감도는 검출기가 광선이나 신호에 반응하는 능력입니다. 일반적으로 단위 입력 방사선당 출력 신호 세기로 표현됩니다. 중요도: 감도가 높을수록 저선량 조건에서도 선명한 이미지를 얻을 수 있으며, 이를 통해 시험 대상에 대한 방사선량을 줄일 수 있습니다. 이는 실시간 영상에서 특히 중요합니다.
3. 동적 범위: 동적 범위는 검출기가 효과적으로 기록할 수 있는 가장 큰 신호와 가장 작은 신호 사이의 범위로, 일반적으로 "데시벨" 단위로 표시됩니다. 중요: 동적 범위가 클수록 이미지 내 밝기 차이를 더욱 세밀하게 포착할 수 있으므로 다양한 밝기 조건에서 이미지를 효과적으로 표시할 수 있으며, 과다 노출이나 이미지의 디테일 손실을 방지할 수 있습니다.
4. 신호 대 잡음비(신호 대 잡음비): 신호 대 잡음비는 이미지에서 신호 대 잡음비의 비율을 나타냅니다. 신호가 강하고 잡음이 작을수록 이미지 품질이 향상됩니다. 중요: 신호 대 잡음비가 높으면 이미지의 잡음이 줄어들어 이미지가 더 선명해지고 진단이나 분석이 더 쉬워집니다.
5. 샘플링 속도: 샘플링 속도는 검출기 단위 면적당 픽셀 수를 나타내며, 일반적으로 인치당 픽셀 수(피피아이)로 표현됩니다. 중요: 샘플링 속도는 검출기의 공간 해상도에 직접적인 영향을 미칩니다. 샘플링 속도가 높을수록 이미지의 세부 표현 능력이 향상될 수 있습니다.
6. 픽셀 크기 정의: 픽셀 크기는 단일 픽셀의 실제 물리적 크기를 나타냅니다. 이는 평판 검출기의 공간 분해능을 결정하며, 일반적으로 미크론(µm) 단위로 표현됩니다. 중요: 픽셀 크기가 작을수록 검출기의 공간 분해능이 향상되어 이미지가 더욱 선명해집니다.
7. 응답 시간: 응답 시간은 검출기가 방사선 신호를 수신하여 이미지를 출력하는 데 걸리는 시간입니다. 중요: 응답 시간이 짧을수록 이미징 속도가 빨라지는데, 이는 동적 또는 실시간 이미징에서 특히 중요합니다.
8. 노출 관용도: 노출 허용 오차는 평판 검출기가 특정 방사선 범위 내에서 양호한 이미지 품질을 얻을 수 있는 능력입니다. 중요: 노출 허용 오차가 높을수록 다양한 방사선 강도에서 이미지 품질이 크게 영향을 받지 않아 시스템의 적응성과 안정성이 향상됩니다.
9. 방사선량: 평면 패널 검출기가 이미징 과정에서 필요로 하는 방사선량입니다. 일반적으로 시스템의 감도, 동적 범위, 그리고 잡음 수준과 관련이 있습니다.
10. 두께 및 무게: 평판 검출기의 물리적 치수(두께 및 무게 포함). 중요: 휴대용 장치나 다른 장치에 설치해야 하는 검출기의 경우, 더 가볍고 얇은 디자인은 장치의 사용 편의성과 호환성을 향상시키는 데 도움이 됩니다.
11. 내구성: 평판 검출기는 장기간 사용 시에도 성능 안정성, 내충격성, 내방사선성 및 기타 성능을 유지합니다. 중요성: 높은 내구성은 유지 보수 및 장비 고장 빈도를 줄여 장비 수명을 연장할 수 있습니다. 이러한 기술 지표는 평판 검출기를 선택하고 평가하는 데 중요한 참고 자료입니다. 다양한 산업 비파괴 검사 적용 시나리오에 따라 기술 지표의 우선순위가 달라질 수 있습니다.