X선관에서 크고 작은 초점의 역할
초점의 크기는 검출 이미지의 정확도를 결정합니다. 초점이 작을수록 검출 정확도는 높아집니다. 그러나 일부 대형 금속 부품을 검사할 때는 충분한 X선 강도가 필요하며, 더 큰 초점이 이러한 목적에 더 적합할 수 있습니다. 관 전류가 클수록 이미지의 신호 대 잡음비가 향상됩니다.
작은 초점의 주요 역할
- 고해상도 이미징 제공
비파괴 검사 분야에서는 미세 구조를 관찰하는 데 작은 초점이 필수적입니다. 작은 초점 X선관은 기하학적 흐림 현상을 줄여 깨끗하고 선명한 이미지를 생성할 수 있습니다.
- 고정밀 검출에 적합
산업 결함 검출에서 작은 초점은 전자 칩과 같은 작고 정밀한 부품을 검사하는 데 필수적입니다. 전자 칩의 내부 회로와 구조는 매우 미세하여 가장 작은 선폭도 수 마이크로미터 또는 그보다 더 작을 수 있습니다. 작은 초점 X선관은 칩의 내부 회로 배치, 솔더 접합 상태 등을 명확하게 보여줄 수 있으며, 솔더 접합부의 미세한 단락, 개방 회로 또는 잘못된 납땜을 감지할 수 있습니다. 이러한 고정밀 이미징 기능은 전자 제품의 품질을 보장하는 핵심 요소 중 하나입니다.
대형 초점의 주요 역할은 높은 전력 출력을 견뎌내는 것입니다..
더 높은 X선 강도가 필요할 때는 넓은 초점이 더 나은 성능을 발휘할 수 있습니다. 예를 들어, 대형 기계의 핵심 금속 부품과 같은 두꺼운 금속 재료를 검사할 때 이러한 부품의 두께는 수십 센티미터에 달할 수 있습니다. X선이 부품을 투과할 수 있도록 충분한 강도의 X선 빔을 생성하기 위해 더 큰 관전류가 필요합니다. 넓은 초점은 양극 타겟에 도달하는 전자빔 면적이 더 넓어 열이 타겟 표면에 더 고르게 분포될 수 있기 때문에 더 높은 관전류를 견딜 수 있습니다.